SuperView W1 白光3D表面轮廓仪
产品型号：SuperView W1
产品名称：光学3D表面轮廓仪
- 影像系统：1024×1024（2048×2048，2592×1944可选）
- 光学Zoom：1×，（0.75×，0.5×可选）
- 干涉物镜：2.5×，5×，10×，20×，50×
- XY平台：尺寸320×200mm，行程140×110mm，电控
- XY横向分辨率：≤0.4μm
- Z轴行程：≥100mm
- Z向分辨率：0.1nm
- 详情请咨询客服 13928190502
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详细信息
一、 产品描述
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SuperView W1光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、
结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，
并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。
SuperView W1光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、
汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，
从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。
二、 产品功能
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1）具备各种类型样品表面微观形貌的3D轮廓重建与测量功能；
2）具备表面粗糙度和微观轮廓的检测功能，粗糙度范围涵盖0.1nm到数十微米的级别；
3）具备校平、去除形状、去噪、滤波等数据处理功能；
4）具备粗糙度分析、轮廓分析、结构分析、功能分析等表面参数分析功能；
5）具备自动对焦、自动测量、自动多区域测量、自动拼接测量等自动化功能；
6）具备一键分析、多文件分析等快速、批量分析功能；
7）具备word、excel等数据报表导出功能；
三、 应用领域
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对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、
加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：
半导体.抛光硅片、减薄硅片、晶圆IC
3C电子.蓝宝石玻璃粗糙度、手机金属壳模具瑕疵、手机油墨屏高度差
超精密加工.光学透镜
精密加工.发动机叶片
精密加工.金字塔型金刚石磁头
标准样块.单刻线台阶、多刻线粗糙度
四、性能特色
1.高精度、高重复性
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1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和优异的3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；
2）独特的隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，
保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得极高的测量重复性；
2.一体化操作的测量分析软件
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1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；
2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；
3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；
4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；
5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；
6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。
3.精密操纵手柄
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集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
4.主动式隔振台
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具备空间6自由度的检测和平衡控制，气浮自适应模式，能有效隔离2HZ以上振动噪声，其中2HZ=15dB噪声隔振效果达到90%，
5HZ=28dB噪声隔振效果达到97%，10HZ=40dB噪声隔振效果达到99%；
5.持续的功能优化
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围绕客户需求进行持续的软硬件升级优化，定期更新软件版本进行升级，提供适度的功能定制服务；
6.双重防撞保护措施
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除初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，
仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。
五、应用案例：
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某军工单位复合材料测量
西华大学水机叶片磨损检测
- 光学3D轮廓仪
- 影像系统：1024×1024（2048×2048，2592×1944可选）
- 光学Zoom：1×，（0.75×，0.5×可选）
- 干涉物镜：2.5×，5×，10×，20×，50×
- XY平台：尺寸320×200mm，行程140×110mm，电控
- XY横向分辨率：≤0.4μm
- Z轴行程：≥100mm
- Z向分辨率：0.1nm
- 单次Z向扫描范围：10.3mm，厚度重复性≤1nm
- Z向扫描速度：≥45μm/s
- 可测样品高度：≥100mm
- 可测样品反射率：0.05%-100%
- 水平调整：±5°
- 粗糙度RMS重复性：0.005nm
- 台阶高测量：准确度＜0.7%，重复性＜0.1% 1σ
- 主要特点：非接触式无损检测，一键分析、快速高效
- 生产企业：深圳市中图仪器股份有限公司
- 注释：更多详细产品信息，请自行下载解决方案查阅或者联系我们获取
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物镜倍率
2.5×
5×
10×
20×
50×
数值孔径
0.075
0.13
0.3
0.4
0.55
可测样品角度
4.3°
7.5°
17.5°
23.5°
33.4°
光学分辨率@550nm（µm）
3.7
2.1
0.92
0.69
0.5
焦深（µm）
48.6
16.2
3.04
1.71
0.9
工作距离（mm）
10.3
9.3
7.4
4.7
3.4
附录1.依据 ISO/ASME/EUR/GBT等国内外标准计算的2D，3D参数表：2D参数表
标准名
参数
ISO 4287-1997
主剖面
粗糙度
波纹度
振幅参数
Pp, Pv ,Pz, Pc, Pt,Pa,Pq,Psk,Pku
Rp, Rv ,Rz, Rc, Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku
Wp, Wv ,Wz, Wc, Wt,
Wa,Wq,Wsk,Wku间距参数
PSm,Pdq
RSm,Rdq
WSm,Wdq
物料比参数
Pmr,Pdc
Rmr,Rdc,Rmr(Rz/4)
Wmr,Wdc,Wmr(Wz/4)
峰值参数
PPc
RPc
WPc
ISO 13565
ISO 13565-2
Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rpk,Rvk
ISO 12085
粗糙度图形参数
R,AR,R× ,Nr
波纹度图形参数
W,AW,W×,Wte
其他图形参数
Rke,Rpke,Rvke
AMSE B46.1
2D参数
Rt,Rp,Rv,Rz,Rpm,Rma×,Ra,Rq,Rsk,Rku,tp,Htp,Pc,Rda,Rdq,RSm,Wt
DIN EN ISO 4287-2010
原始轮廓参数
Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
粗糙度参数
Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,
波纹度参数
Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr
JIS B0601-2013
原始轮廓参数
Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
粗糙度参数
Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,Rdq,Rdc,Rmr
波纹度参数
Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr
GBT 3505-2009
原始轮廓参数
Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
粗糙度参数
Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,Rdq,Rdc,Rmr
波纹度参数
Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr
3D参数表
标准名
参数
ISO 25178
高度参数
Sq,Ssk,Sku,Sp,Sv,Sz,Sa
函数参数
Smr,Smc,S×p
空间参数
Sal,Str,Std
复合参数
Sdq,Sdr
体积参数
Vm,Vv,Vmp,Vmc,Vvc,Vvv
形态参数
Spd,Spc,S10z,S5p,S5v,Sda,Sha,Sdv,Shv
功能参数
Sk,Spk,Svk,Smr1,Smr2,Spq,Svq,Smq
ISO 12781
平面度参数
FLTt,FLTp,FLTv,FLTq
EUR 15178N
振幅参数
Sa,Sq,Sz,Ssk,Sku,Sp,Sv,St
空间参数
Str,Std,Sal
复合参数
Sdq,Sds,Ssc,Sdr,Sfd
面积体积参数
Smr,Sdc
函数参数
Sk,Spk,Svk,Sr1,Sr2,Spq,Svq,Smq
功能性指标参数
Sbi,Sci,Svi
EUR 16145 EN
振幅参数
Sa，Sq，Sy，Sz，Ssk，Sku
混合参数
Ssc，Sdq，Sdr
功能性指标
Sbi，Sci，Svi，Sk，Spk，Svk
空间参数
Sds，Std，Stdi，Srw，Srwi
硬度参数
Hs，Hvol，Hv，Hps，Hpvol，Hpv，Hap，Hbp
ASME B46.1
3D参数
St,Sp,Sv,Sq,Sa,Ssk,Sku,SWt
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