日立台式XRF镀层测厚仪 X-Strata980
出色的精确性和长期的稳定性：
●日立分析仪器生产的100瓦X射线管大大提高了灵敏度实现快速精确的分析；
●高分辨半导体探测器完成简单快速的元素识别；
●通过多个初级滤波器对全元素范围实现最佳的分析效果；
●日立分析仪器公司独特的低背景测量板，实现更低的检出下限。详细资料请咨询客服！
利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
X-Strata980 – 灵活、多元素、无损的材料分析
一款全面强大的X射线荧光分析仪，能够检测各种大小的样品
快速、精确分析固体、液体和粉末
程控台的大样品舱方便样品摆放和测量（可选）
集成电脑节省了台式仪器的空间
高分辨率检测器使检测下限降到最低
应用广泛，包括光电池、RoHS有害元素筛选和贵金属分析
