利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，
提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

 

X-Strata920 – 性价比高，无损可靠 

一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。

 

新型号设计

 

快速分析（几秒）1-4层镀层厚度

多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型

开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等

符合ISO3487和ASTM B568检测方法

X-Strata920 - 三种配置满足您的需要：

 

固定样品台

开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品，如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度

经济、实用

平面样品台设计，适合高度不超过1.3"(33mm)的样品分析

 

加深样品台

高度每英寸(25.4mm)可调，架构式样品舱可容纳最大高度6.3"(160mm)的样品

可以选4个样品盘中任一个来盛放不同高度的样品

开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品，如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度

 

程控样品台

用于自动化测量 

方便根据测试位置放置样品，并精准定位测量点

开槽式样品舱允许检测大型平板样品，如印制线路板

 

样品台尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (宽)