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E3-GEN ROHS/卤素/镀层检测分析仪

            E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF);其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;采用小光斑设计,对大型PCB板小测试点精确定位,避免材质干扰;开放性可调样品台,应对各种大型PCB板,无需拆分即可直接测试。




 







 


 E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF);其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;采用小光斑设计,对大型PCB板小测试点精确定位,避免材质干扰;开放性可调样品台,应对各种大型PCB板,无需拆分即可直接测试。

● RoHS检测:Pb(铅)、Cd(镉)、Hg(汞)、Cr(铬)

● 卤素检测:Br(溴)、Cl(氯)

● 镀层测试:应对各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn等

辐射保护

● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线

● 辐射标志警示

●仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》

硬件技术

● X射线下照式,激光对焦可调样品仓,对于大件样品、异形不平整样品,无需拆分打磨,可直接测试

● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率

● 最小光斑0.2mm,可针对各种样品中的小测试点精确定位,避免材质干扰,测量结果更准确

● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计

电路系统符合EMCFCC测试标准

软件技术(HeLeeX ED Workstation V3.0

● 分析元素:Na~U之间元素

● 分析时间:90

● 界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作

● 数据一键备份,一键还原、一键清理功能,保护用户数据安全

● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度

● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。

探测器

● 类型:X123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● 最佳分辨率:145eV

● 信号处理系统:DP5

X射线管

● 电压:0-50v

● 最大电流;2mA

● 最大功率:50W

● 靶材:Mo

● Be窗厚度:0.2mm

● 使用寿命:大于2w小时

高压电源

● 输出电压:0-50Kv

● 灯丝电流0-2mA

● 最大功率:50w

● 纹波系数:0.1%(p-p值)

● 8小时稳定性:0.05%

摄像头

● 焦距:微焦距

● 驱动:免驱动

● 像素:500万像素

准直器、滤光片

● 系统:快拆卸准直器、滤光片系统

● 材质:多种材质准直器

● 光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选

● 组合:多种滤光片(软件自动切换)、准直器组合

十字激光头

● 光斑形状:十字线

● 输出波长:红光650nm

● 光学透镜:玻璃透镜

● 尺寸Φ10×30mm

● 发散角度:0.1-2mrad

● 工作电压:DC 5V

● 输出功率:<5mW

● 工作温度:1050

● 储存温度:4085

其它配件

● 开关电源:进口高性能开关电源

● 散热风扇:进口低噪声、大风量风扇

● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)

● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)

●仪器重量:50kg

●供电电源:AC220V/ 50Hz

●最大功率:330W

●工作温度:15-30℃

●相对湿度:85%,不结露

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