Hyper QV WLI非接触式自动3D影像测量机 时间:2017-04-28 分类:日本三丰二次元影像测量仪 Hyper QV WLI 非接触式3D测量机 1 台设备即可实现坐标，尺寸和3D 形状的非接触测量。 HYPER QV WLI 是标配有白光干涉计WLI 光学镜头的高精度双镜头测量系统。 影像测量机使用白光干涉计，从2D 的坐标/ 尺寸的测量到细微部分的表面分析、小径孔深、基板配线尺寸等的高精度3D 测量发挥威力。 大工作台能准确地处理大尺寸工件，如印制电路板。 分享收藏： 上一篇：三丰触发测头影像测量系统QV TP 下一篇：三丰UMAP TYPE2微细形状测量系统 相关产品 万濠二次元影像测量仪VMS-1510G ATOS 5三维扫描仪德国GOM ATOS Q紧凑型三维扫描仪 PRINCE335双色激光手持式三维扫描仪 HSCAN771手持三维扫描仪 手持式三维扫描仪PRINCE775 电缆 胶辊镭射仪 激光测径仪显示器 自动控制电缆外径/胶管外径激光测径仪
